基本信息

• 需求名稱：
  布魯克臺(tái)階儀DEKTAK150
• 儀器種類：
  其他
• 價(jià)格區(qū)間：
  5萬(wàn)-10萬(wàn)
• 年限：
  3年內(nèi)
• 儀器狀態(tài)：
  無(wú)故障正常運(yùn)行
• 儀器來(lái)源：
  企業(yè)
• 需求描述：

  型號(hào) dektak150

   

  Veeco Dektak150臺(tái)階儀

   

  主要用于薄膜厚度，表面形貌，應(yīng)力，平整度等精密測(cè)量，

  廣發(fā)應(yīng)用于光學(xué)，太陽(yáng)能，半導(dǎo)體，生命科學(xué)，材料科學(xué)

  等領(lǐng)域。測(cè)量時(shí)利用金剛石探針在樣品表面運(yùn)動(dòng)，記錄探

  針垂直位移，經(jīng)過(guò)一系列信號(hào)轉(zhuǎn)換及處理，最終以表面輪

  廓線形式表現(xiàn)，從而達(dá)到測(cè)量樣品表面臺(tái)階高度，粗糙度

  等物理參數(shù)的目的。

   

  主要參數(shù)：

  探針直徑為2.5 μm，

  探針壓力為3 mg，

  測(cè)量范圍是10~66500 nm，

  垂直方向精度為0.1 nm。

  聯(lián)系人 馬生 13631709005

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