X - 300 SciAps-XRF手持式光譜金屬分析儀擁有更快的分析速度和更準確的分析結(jié)果。它通過使用高性能的SDD探測器和脈沖處理電子,加上一個高度優(yōu)化的X射線管和探測幾何,以大限度地提高計數(shù)率。
對于合金測試,X - 300可檢測幾乎所有合金,并在鎂鋁合金檢測方面擁有無語倫比的高性能。 高分辨率的探測器對超合金、高溫度和其他特殊合金具有很高的性能。該分析儀的設計優(yōu)化了鎂合金的檢測,對快速準確的鋁合金分析至關重要。
X - 300擁有同類型產(chǎn)品中更快的分析速度和更準確的分析結(jié)果。
它通過使用高性能的SDD探測器和脈沖處理電子,加上一個高度優(yōu)化的x射線管和探測幾何,以大限度地提高計數(shù)率。
對于合金測試,X - 300可檢測幾乎所有合金,并在鎂鋁合金檢測方面擁有無語倫比的高性能。
高分辨率的探測器對超合金、高溫度和其他特殊合金具有很高的性能。該分析儀的設計優(yōu)化了鎂合金的檢測,對快速準確的鋁合金分析至關重要。
地球化學應用x - 300提供了更低的檢出限(LOD)和更高的測量精度。
分析儀采用基本參數(shù)法(fundamental parameters)、康普頓標準化法(Compton Normalization)及經(jīng)驗系數(shù)法(empirical calibration)校正。符合美國EPA Method 6200使用規(guī)范要求。